如何获得高质量的afm图像

 时间:2024-10-11 19:22:27

1、FORCE REF值。范围大致为-1.0mm左右。它表明探针与试样表面极微弱作用力大小。如果是正值,探针向试样靠近不能结束;如果为负值,而且绝对值比较大,就有可能损坏cantilever和试样。所以,force ref值是扫描过程中能否成像的最重要参数之一。

2、扫描速度。通常扫描速度由扫描面积大小决定。面积大,试样的微观粗糙度就大,如果扫描速度快,探针快速移动来不及反馈响应信号,造成试样出现拖尾现象。

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3、I/P gain值。这个值重要是跟踪试样表面凹凸反馈。I gain值大致为0.3左右,如果试样凹凸大(剞麽苍足数百nm以上),要设定为大值;凹凸小(数十nm以下),设定为小值,约0.1左右。数值过小时,靠近approach不能正常结束。数值过大时,又有可能出现震荡。P gain值约0.08左右,不要大于I gain的(1/2),如果过大则会出现震荡。

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6、另外,有的样品也需要进行预处理。如果在显微镜下发现样品有污染或不平整,要重新制样。试样的水平和高度接近针尖的任何一个极限,所获得的图象效果会很差,而且针尖容易被破坏和磨损。

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